國際設備大廠傾全力搶進電子束檢測市場,繼科磊(KLA Tencor)打進台積電 (2330) 及英特爾供應鏈後,全球半導體設備龍頭應用材料昨(24)日也宣布推出突破性的電子束檢測機台,可應用於14╱16奈米鰭式場效電晶體(FinFET)及3D快閃記憶體。今年面臨兩大廠夾擊搶單的漢微科(3658),市占率流失壓力明顯升溫。
半導體製程微縮至FinFET或3D電晶體架構後,雖然光學檢測仍是主流,但利用明場或暗場(bright or dark field)檢查來解析晶圓製程中的缺陷,對於低功耗先進製程來說,往往無法檢測出因電性缺陷造成的異常電流導致的電壓反差(voltage contract)。也因此,電子束檢測在先進製程中開始扮演重要角色,特別是可以減少製程回饋時間及縮短學習曲線,有很大的幫助。